HYPERION 3000 FTIR Microscope head

Исследовательский FT-IR микроскоп HYPERION

От микроскопии к визуализации:
серия Hyperion

Серия HYPERION является результатом более чем 30-летнего опыта специалистов Bruker в области ИК-Фурье микроанализа. Совершенная конструкция оптической системы, механики и электроники прибора обеспечивает высокую стабильность и надежность. HYPERION позволяет просто и эффективно провести высококачественный микроанализ с помощью множества самых современных устройств, специальных объективов и средств изображения химического состава. Модульная конструкция дает возможность адаптировать HYPERION к требованиям поставленной задачи. Область таких задач самая широкая: материаловедение, исследование полимеров, общая химия, криминалистика, исследование произведений искусства, биология и минералогия.

 

Чувствительность и пространственное разрешение

Чувствительность и пространственное разрешение, ограниченное только дифракцией падающего света. Благодаря большой светосиле высокая чувствительность обеспечивается даже при высоком пространственном разрешении.

Ход лучей в микроскопе HYPERION конфокальный, апертуры могут находиться в плоскости изображения и перед и после образца, как в режиме пропускания, так и отражения. В стандартной комплектации Hyperion устанавливается одна ножевая апертура. Возможна установка дополнительных металлических ножевых ирисовых апертур, в том числе системы автоматизированной смены апертур.

 

Приспособления для измерения образцов

Для ИК-Фурье спектроскопии микрообъектов в режиме пропускания образцы должны быть оптически тонкими, т.е. обычно толщиной 5-15 μм. Если образцы расположены на отражающей подложке, можно применять режим отражения. Штатно предлагается 15-кратный объектив, а для более мелких образцов 20 и 36-кратные объективы. Для неотражающих и непрозрачных образцов может использоваться режим НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения).

Специальный 20-ти кратный НПВО-объектив (20x) обеспечивает возможность визуального наблюдения образца без ущерба для чувствительности измерений. Можно подобрать оптимальное давление НПВО кристалла на образец в зависимости от его твердости. Встроенный датчик давления постоянно поддерживает оптимальный контакт между НПВО кристаллом и образцом даже в режиме автоматического сканирования поверхности.

Для сверхтонких образцов на металлических поверхностях следует использовать метод отражения скользящего луча, который увеличивает взаимодействие между ИК-излучением и образцом. Благодаря запатентованной конструкции объектива скользящего угла (Bruker), достигается высочайшая чувствительность, что позволяет исследовать даже мономолекулярные слои, в том числе в поляризованном свете.

 

Спектральный диапазон

Спектральный диапазон HYPERION может быть увеличен со стандартного среднего ИК-диапазона как до ближней и видимой области спектра (до 25,000 см-1), так и до дальнего ИК (до 80 см-1). Для покрытия такого диапазона используют различные детекторы, которые пользователь может заменять самостоятельно. В HYPERION можно одновременно установить до 2х детекторов, переключение между которыми осуществляется при помощи программного обеспечения.

 

Программное обеспечение

HYPERION управляется при помощи легкого в использовании, спектрального пакета программ OPUS. ПО содержит все необходимые функции для сбора данных, их обработки и анализа. Интерфейс может быть настроен для стандартного лабораторного анализ или исследовательских применений в зависимости от Ваших потребностей.

Все регистрируемые спектры, изображения образцов, ИК-изображения, RGB и PCA графики, и примечания сохраняются в одном файле.

Регистация спектров с использованием HYPERION сопровождается Мастером измерения (OPUS 7.0). Для анализа как одномерных, так и 3D данных доступны многочисленные алгоритмы. Итоговое ИК-изображение может быть представлено в виде 2D и 3D проекции над видимым изображением образца.

TENSOR_II_ATR_Microscope.jpg

 

ИК-Фурье спектрометр TENSOR II с ИК-микроскопом HYPERION 3000

 

 

 

Диагностика спектрометра

ИК-Фурье микроскоп HYPERION гарантирует получение надежных данных. PerformanceGuard™ спектрометра включает постоянную online диагностику, отражение статуса прибора в режиме реального времени, встроенные автоматические тесты (OQ, PQ). ПО OPUS содержит необходимые функции для осуществления анализа в соответствии с GMP и 21CFR-Part11.

 

Универсальные конструкции

Hyperion представляет собой конструируемую под соответствующие задачи платформу для проведения оптического и инфракрасного анализа по последнему слову техники. Модель Hyperion 2000 обладает всеми возможностями модели 1000, а 3000 – соответственно модели 2000.

  • HYPERION 1000: высококачественный инфракрасный микроскоп с возможностью работы в режимах пропускания и отражения ножевой апертуры и ручным xy-предметным столиком. Он оборудован 15х кассегреновским объективом, 4х объективом для визуального наблюдения, бинокуляром и видеокамерой
  • HYPERION 2000: Hyperion 2000: Полностью автоматизированный микроскоп с моторизованным столиком и дополнительным LCD экраном, включает в себя комплектацию Hyperion 1000.
  • HYPERION 3000: Полностью автоматизированный ИК-Фурье микроскоп для получения спектральных изображений с современным матричным детектором. Включает в себя комплектацию 2000.

Получить более подробную информацию

Визуальное наблюдение

Integrated LCD screen on the HYPERION makes the sample positioning and the identification of the region of interest more comfortable.

До проведения анализа методом ИК-Фурье микроскопии необходимо выбрать исследуемую область объекта. Однако, большинство образцов не достаточно контрастны в видимом диапазоне. HYPERION обладает различными приспособлениями для увеличения контраста в видимой области в режимах пропускания и отражения.

 

  • Разнообразные объективы
  • Апертуры Келлера
  • Вращаемые поляризаторы перед и за образцом в режимах пропускания и отражения
  • Метод светлого и темного поля
  • Флуоресценция

 

Визуальное наблюдение образца осуществляется с помощью высококачественной  CCD - камеры. Наблюдение через бинокуляр позволяет избежать искажения цвета. Дополнительно существует возможность автофокусировки.

µ-ИК-Фурье Принадлежности

НПВО объектив

ATR 06

Специализированный НПВО объектив Bruker предназначен для визуализации образца без потери ИК-излучения. Объектив содержит внутренний датчик давления, который обеспечивает оптимальный прижим между образцом и кристаллом во время анализа.

Объектив скользящего угла

Gra Obj

Запатентованный объектив скользящего угла Bruker создан для микроанализа тонких покрытий и обладает высокой чувствительностью с сохранением поляризационных характеристик ИК-луча.

IMAC устройство анализа макрообъектов

IMAC

IMAC представляет собой продуваемое внешнее кюветное отделение и предназначен для визуализации больших образцов с использованием современной технологии матричного детектирования (FPA).

Нагреваемый держатель образца (A 599)

A599

Нагреваемый держатель образца может использоваться для ИК- и КР-микроскопического анализа в режимах пропускания и отражения. Температурным нагревом от комнатной до 180° можно управлять при помощи ПО.

Столик с функциями нагревания и охлаждения (A 699)

A699

Столик с функциями нагревания и охлаждения для ИК- и КР-микроанализа различных образцов позволяет работать в температурном диапазон от -196°C до 600°C .

Получить более подробную информацию

FT-IR визуализация в высоком разрешении

HYPERION 3000

Hyperion 3000 объединяет в себе возможности получения спектра с одной площади и построения спектральных изображений образца. Две различные оптические системы, установленные в микроскопе обеспечивают с одной стороны высокоточное и неискаженное изображение химического состава объекта с помощью матричного детектора, а с другой  стороны - максимальный поток излучения (светосилу) на одноэлементный детектор.

Использование матричного детектора позволяет получать одновременно 16 384 спектра  с площадки 340х340 микрон с разрешением 2,7 µmм на пиксел. Для анализа более крупных площадей полученные изображения объединяются. Более высокое пространственное разрешение достигается с помощью объективов с большей числовой апертурой (20х,36х)

Пространственное разрешение спектрального изображения объекта ограничено только дифракционным пределом для соответствующей длины волны. Таким образом в среднем ИК-диапазоне оно составляет около 2,5 µм (при 4000 см-1) как в режиме пропускания так и отражения. Чтобы достичь высокого пространственного разрешения на пиксел порядка 1,1 µм используется 36х объектив.

 

Пространственное разрешение на пиксел в режимах пропускания и отражения для Hyperion 3000:

ОбъективРазрешение на пиксел
15x2.7 µм
20x2.0 µм
36x1.1 µм

 

 

Программное обеспечение OPUS/Video позволяет легко определять интересующий участок объекта, делать снимок видимого изображения и осуществлять измерения в автоматическом режиме. Результатом измерения являются данные ИК-Фурье анализа в формате 3D, которые могут обрабатываться стандартным инструментарием и функциями ПО OPUS.

Результаты анализа можно отобразить в 2D и 3D (мнимой) проекции в цвете. Для интерпретации 3D данных ПО OPUS предлагает следующие алгоритмы: интегрирование полос, корреляция со спектрами однокомпонентных образцов, кластерный анализ, анализ главных компонентов (PCA) и расчет RGB изображения.

Визуализация макрообъектов выполняется при помощи модуля визуализации IMAC, который использует матричную детекцию для химической визуализации образца.

hyperion3000-n.jpg

 

HYPERION 3000 может быть сопряжен со спектрометрами Bruker серий TENSOR и VERTEX.

 

 

Получить более подробную инфомацию